傳統(tǒng)的落地式SEM掃描電鏡儀器可能需要一個專門的房間或設(shè)施,而中圖儀器國產(chǎn)掃描電鏡公司的CEM3000系列掃描電鏡的框架尺寸還有所縮小,具有更高的易用性,要堅固耐用得多。
更新時間:2025-11-03
產(chǎn)品型號:CEM3000
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CEM3000系列自動化顆粒度統(tǒng)計掃描電鏡具有高度的靈活性和豐富的功能,包括多種檢測器、附件,可以滿足廣泛的研究和工業(yè)需求,包括半導(dǎo)體芯片失效分析。無論樣品尺寸、重量、導(dǎo)電性如何,掃描電鏡都可以讓您輕松應(yīng)對挑戰(zhàn),獲得出色的SEM圖像和SEM分析結(jié)果。
更新時間:2025-10-30
產(chǎn)品型號:CEM3000
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SuperViewW工業(yè)表面3D白光干涉檢測儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
更新時間:2025-10-28
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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傳統(tǒng)的落地式SEM掃描電鏡儀器可能需要一個專門的房間或設(shè)施,而CEM3000中圖儀器臺式電鏡掃描儀器的框架尺寸還有所縮小,具有更高的易用性,要堅固耐用得多。
更新時間:2025-10-28
產(chǎn)品型號:CEM3000
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NS系列國產(chǎn)探針式臺階儀應(yīng)用場景適應(yīng)性強,其對被測樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無特殊要求,可測量沉積薄膜的臺階高度、抗蝕劑(軟膜材料)的臺階高度等。
更新時間:2025-10-24
產(chǎn)品型號:NS200
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VT6000白光共焦顯微鏡用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
更新時間:2025-10-24
產(chǎn)品型號:VT6100
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